１２：４５〜１３：００　　受付
　　　　１３：００〜１３：０５　　会長挨拶・注意事項
　　　　１３：０５〜１４：２５　　講演�@　基礎
　　　　１４：２５〜１５：２０　　講演�A　応用
　　　　１５：２０〜１５：３０　　休憩
　　　　１５：３０〜１６：２５　　講演�B　応用
　　　　１６：２５〜１７：３０　　懇親会　※飲食無し

【要旨】
　XAFS とは X 線吸収スペクトルに現れる微細な構造である。XAFS を解析することで、元素の価数や局所構造を知ることができる。この手法の特徴として、非破壊分析であり、元素選択性に優れ、結晶だけでなく非結晶物質（液体も含む）の構造情報を得ることができる点が挙げられる。今回は、前半にXAFS の概要について説明を行い、後半に XAFS を用いた水溶液および鉄・マンガン酸化物（非結晶物質）中の希土類元素の局所構造解析を行った結果について解説する。

【要旨】
　最近、非晶質（ガラス）の構造を理解するため、複数の解析手法を駆使した解析が求められている。その中でも、量子ビームを用いた実験は、高エネルギーX 線・中性子回折のような回折・散乱や、X 線吸収微細構造（XAFS)のような吸収分光に代表されるように、非晶質材料の構造解析の重要な手段となっている。本講演では、これまでの研究とともに、XAFS でわかるガラスの構造と物性との関連性について解説する。

【要旨】
　独自構築した新規の放射光分析技術を 2 例紹介する。πXAFS（光子干渉 X 線吸収微細構造）は、吸収端を跨いだＸ線吸収スペクトル中の構造で、局所構造情報（原子間距離・配位数）が得られる。従来の EXAFS とは異なり、吸収端エネルギーに縛られない測定が行える。PCXSS（パルス状コヒーレント X 線溶液散乱）は、フェムト秒のＸ線自由電子レーザーを用いて、試料損傷が起こる前の一瞬の試料構造をナノイメージングできる。ガラス中に析出したナノ結晶など、ほとんど密度差のない構造も、高コントラストで可視化できる。