2022.12.7更新
| 本研究会は、ニューガラスを中心に「ガラス製品の開発支援技術の強化と普及」に向け、ガラスの商品化において求められる「各種評価技術について、企業（メーカーとユーザー）における現状と課題、それらに関連する大学および公的研究機関の研究、類似材料の評価例など」を話題として取り上げ、「評価技術の産学官による深化と共有化」を目指す場とします。対象とする技術は、ガラスとその表面に関する分析・解析技術、熱物性・機械物性・光物性等の測定技術とし、年間4回開催する予定です。そのうち2回はガラス科学技術研究会と合同での開催を予定しています。 |
| 主査 | 豊橋技術科学大学 | 総合教育院 教授 | 武藤 浩行 |
| 幹事 | AGC株式会社 | 材料融合研究所 無機材料部 | 土屋 博之 |
| 株式会社ニコン | 研究開発本部 材料・要素技術研究所 | 上田 基 | |
| 日本板硝子株式会社 | 研究開発部 | 内山 堅慈 |
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「先端局所分析技術が解き明かすガラス構造 - 第一回：電子線、放射光 編」 |
| 今年度の評価技術合同研究会は、全2回の主テーマを「先端局所分析技術が解き明かすガラス構造」と設定しました。今回はその第1回となります。 |
| 1. 日時：2023年1月25日（水）13:00～16:10 2. 場所：オンライン開催（ZOOM利用） 3. プログラム (1) 事務連絡 13:00～13:05 (2) 開会挨拶 13:05～13:10 武藤 浩行 評価技術研究会主査（豊橋技術科学大学 教授） (3) 講演 講演① 13:10～14:05（講演45分、質疑応答10分） 「STEM-EELSやXAFSを用いた局所分析の基礎」 溝口 照康 先生（東京大学 生産技術研究所 教授）） 【要旨】
走査透過型電子顕微鏡（STEM）を用いて測定される電子エネルギー損失分光（EELS）や、放射光を用いて測定されるＸ線吸収分光（XAFS）は、強力な局所分析法であり、ガラスや触媒、電池などの材料開発にひろく利用されている。本発表ではSTEM-EELSやXAFSを用いた局所分析の原理と基礎について学ぶ。
講演② 14:05～15:00（講演45分、質疑応答10分） 「STEM-EELSを用いたガラス材料の局所分析」 溝口 照康 先生（東京大学 生産技術研究所 教授） 【要旨】
STEM-EELSを用いることで、ガラス中に存在するドーパントや、分相構造を実空間で解析することが可能である。本発表では、STEM-EELSや4D-STEMその場加熱ホルダーを用いた材料解析や、第一原理計算を併用したスペクトル解析などの研究成果について紹介する。
－－－－－－－－－ 休 憩 （ 10分 ） －－－－－－－－－－ 講演③ 15:10～16:05（講演45分、質疑応答10分） 「高圧実験と放射光X線測定を組み合わせたケイ酸塩ガラスの高圧下その場構造測定」 河野 義生 先生（愛媛大学 地球深部ダイナミクス研究センター 准教授） 【要旨】
高圧下におけるガラスの構造変化とそれに伴い発現する特異な特性の理解は、幅広い科学・技術分野における重要課題である。特に近年、大型放射光施設において、高圧下における非晶質物質の構造・物性測定法の開発が進み、ガラスの高圧挙動に関する研究は急速な発展を見せている。本講演では、特に、SPring-8において最近我々が開発した高圧その場環境下における非晶質物質のX線構造測定と、それを用いたSiO2ガラスの高圧下における構造変化の研究について紹介する。
(4) 事務連絡 16:05～16:10 4. 参加費について 会員企業の方 ： 10,000円 会員外企業の方 ： 20,000円 官学の研究者 ： 1,000円 ＜年間登録者無料＞ 5. 参加申込み 次の①～⑥の事項を記入の上、2023年1月18日（水）までに下記宛 e-mailにて お申込み下さい。なお、お申込み多数の場合には、調整させていただく場合がございます。 ①氏名（フリガナ） ②所属（会社名・部署） ③E-mailアドレス ④郵便番号・住所 ⑤TEL番号 ⑥参加を希望するセミナー・研究会名 【申込み先】 一般社団法人ニューガラスフォーラム セミナー研究会窓口（yamamoto@ngf.or.jp） 担当：神吉 〒169-0073東京都新宿区百人町3-21-16日本ガラス工業センター2F TEL:03-6279-2605 FAX:03-5389-5003 |