2024年度第1回評価技術研究会 開催のお知らせ（7月16日）
参加者募集中
「ガラスの化学・機器分析」
ガラスの性質、特性は、ガラスを構成する元素の化学種、配置等により決定付けられます。今年度第1回は、これらを精度良く、定量的に評価するための最新の手法に関して解説して頂きます。ガラス技術者の皆様に有益な情報を提供できると思いますので、多くの方のご参加をお待ちしております。
今回の評価技術研究会はオンラインと対面を併用したハイブリッド方式で行います。また参加者同士の交流を深めるために、講演終了後に技術交流会を行いますので、ぜひご参加ください。
1. 日時：2024年7月16日（火）
講演 13：00～15：05
技術交流会 15:15～16:30（現地のみの開催です）
・立食形式で、アルコール／ソフトドリンクと軽食のご提供を予定しています。
・講師の先生方はご都合により技術交流会にご参加いただけない場合があります。
・講演が1件増えて計３講演になる可能性があります。その場合は講演は16:10まで、技
術交流会は16:30～18:00となります。
2. 場所：日本ガラス工業センター 地下会議室（東京都新宿区百人町3-21-16）
（ZOOM の併用）
3. プログラム
3-1. 事務連絡 13:00～13:05
3-2. 開会挨拶 13:05～13:10
武藤 浩行 評価技術研究会主査（豊橋技術科学大学 教授）
3-3. 講演
講演(1) 13:10～14:05（講演45分、質疑応答10分）
「X線トポグラフおよび全散乱法による単結晶基板および乱れた結晶構造の解析」
表 和彦 先生（株式会社リガク X線研究所 所長）
【要旨】
X線トポグラフは、単結晶基板内に存在する転位などの結晶欠陥を可視化する有効な方法
で、60年前にはSi単結晶における多数の転位を観測している。現在でも、パワーデバイス
で実用化が始まったSiCなど、多数の結晶基板の評価に使われている。講演ではトポグラフ
法の原理から、最近の応用例まで紹介する。また、X線全散乱法は、バックグラウンドを除
く試料からの全ての散乱を対象に、結晶の乱れや非晶質の構造を解析する方法である。わ
れわれはデータに一致する原子配置を探査するために、モンテカルロ法を組み合わせ、原
子配位の構造変化等を解析してきた。講演では、全散乱データ解析の基礎から、固体電解
質の温度による構造変化を解析した例までを紹介する。
講演(2) 14:05～15:00（講演45分、質疑応答10分）
「ガラス中のスズの価数分析」
西條 佳孝 先生（AGC株式会社 先端基盤研究所 共通基盤技術部 分析科学チーム
シニアマネージャー）
【要旨】
所望のガラス特性を達成するため、ガラスに微量成分として多価元素が添加されること
がある。一般にそのガラス特性に対する影響は多価元素の各価数によって異なる。したが
って、実際のガラス製造において所望のガラス特性を達成するためには、その現場で、多
価元素の価数別の濃度を信頼性の高い方法で定量し、調整する必要がある。ここでは開発
されたガラス中のスズの価数分析方法について説明し、その応用としてフロートガラスの
表面に侵入したスズの深さ方向価数分析についても述べる。
3-4. 事務連絡 15:00～15:05
4. 研究会参加費について
・会員企業の方 ： 13,000円
・非会員企業の方 ： 25,000円
・官学研究者の方 ： 1,000円 ＜年間登録者無料＞
5. 参加申込み
次の1)～8)の事項を記入の上、2024年7月9日（水）までにセミナー研究会窓口までe-mail
にてお申込み下さい。追って請求書を送付いたします。なお、お申込み多数となった場合に
は、参加をお断りさせていただく場合がございます。予めご了承お願い致します。
1) 氏名（フリガナ）
2) 所属（会社名・部署）
3) E-mailアドレス
4) 住所
5) TEL番号
6) 参加を希望するセミナー・研究会名
7) 希望する参加方式（現地参加またはWeb参加）
8) 現地参加の場合、技術交流会への出欠
6. 問い合わせ先
一般社団法人ニューガラスフォーラム
セミナー研究会窓口（yamamoto@ngf.or.jp） 担当：神吉（カンキ）
〒169-0073東京都新宿区百人町3-21-16日本ガラス工業センター2F
TEL:03-6279-2605 FAX:03-5389-5003
以上